首先，測(cè)試儀所配備的存儲(chǔ)介質(zhì)類型決定了基礎(chǔ)存儲(chǔ)能力。常見的存儲(chǔ)介質(zhì)有內(nèi)置存儲(chǔ)卡或閃存芯片等。如果是容量較小的存儲(chǔ)卡，例如早期常見的16GB存儲(chǔ)卡，扣除系統(tǒng)占用等，實(shí)際可用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的空間可能在14GB左右。假設(shè)每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)記錄大小平均為1KB（包含測(cè)試時(shí)間、安瓿批次、折斷力數(shù)值等關(guān)鍵信息），那么14GB（14×1024MB = 14336MB ，14336MB×1024KB = 14680064KB ）理論上大約能存儲(chǔ)1400多萬條數(shù)據(jù)。但如果采用大容量的閃存芯片，比如128GB甚至1TB容量的，在同樣數(shù)據(jù)記錄大小下，存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量將大幅提升，128GB的閃存芯片可存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量是16GB存儲(chǔ)卡的8倍左右，1TB（1024GB）則是16GB存儲(chǔ)卡的64倍，可存儲(chǔ)近9億條數(shù)據(jù)。

其次，測(cè)試儀的軟件系統(tǒng)和數(shù)據(jù)記錄格式也對(duì)存儲(chǔ)量有影響。若軟件系統(tǒng)在記錄數(shù)據(jù)時(shí)采用較為精簡高效的格式，能在相同空間存儲(chǔ)更多數(shù)據(jù)；反之，若數(shù)據(jù)記錄格式冗余度高，包含大量不必要的信息，就會(huì)占用更多空間，導(dǎo)致存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量減少。

另外，有些測(cè)試儀具備數(shù)據(jù)定期清理或覆蓋舊數(shù)據(jù)的功能。比如設(shè)置每存儲(chǔ)一定數(shù)量的數(shù)據(jù)（如10萬條）后，自動(dòng)覆蓋最早的數(shù)據(jù)，這種情況下，測(cè)試儀實(shí)際長期保存的數(shù)據(jù)量就會(huì)維持在一個(gè)設(shè)定的數(shù)值。還有些測(cè)試儀可將數(shù)據(jù)定期上傳至外部服務(wù)器，本地只保留近期數(shù)據(jù)，那么本地存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量主要取決于近期測(cè)試頻率和設(shè)定的本地保留期限。